我們常(chang)看到的(de)一些3C產品，里面都有(you)安(an)裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)高能量密度、高電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶效應等(deng)優點，是(shi)(shi)21世紀(ji)發展的(de)理想電(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、筆(bi)記本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、可(ke)穿戴設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因短路(lu)、過充等(deng)原因燒(shao)毀(hui)或爆炸，所(suo)以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)是(shi)(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和(he)組裝的(de)重(zhong)要環(huan)節，是(shi)(shi)實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)(xing)(xing)能和(he)安(an)全(quan)靠譜(pu)使用的(de)有(you)力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)項目主要包括一致性(xing)(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)(xing)、安(an)全(quan)性(xing)(xing)(xing)、靠譜(pu)性(xing)(xing)(xing)和(he)工況(kuang)模擬。

　　3C鋰(li)電(dian)池測(ce)試對電(dian)池測(ce)試模(mo)塊的選擇很重(zhong)要(yao)。目前市場上廣泛使(shi)用的電(dian)池測(ce)試模(mo)塊有兩種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)凱智通(tong)大電(dian)流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)塊，另一(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)模(mo)塊。通(tong)過比(bi)較兩者的優缺點，我們可以更直觀地(di)區(qu)分(fen)哪一(yi)個更符合要(yao)求3C鋰(li)電(dian)池測(ce)試要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，歐美日韓精品:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間(jian)距還是大(da)電(dian)流(liu)(liu)，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)塊都有很(hen)好的應(ying)對方法。pitch在該(gai)領域，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)塊是可(ke)取(qu)的pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩(wen)定靠(kao)譜(pu)。面對大(da)電(dian)流(liu)(liu)測(ce)試要求，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)塊可(ke)通過(guo)的額定電(dian)流(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)流(liu)(liu)衰減，具(ju)有良好的連接功能，可(ke)以很(hen)大(da)限度地(di)保(bao)障3C鋰電(dian)池測(ce)試的穩(wen)定性。

　　就使(shi)用壽(shou)命而言(yan)，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)試驗壽(shou)命在(zai)于5w大(da)電流彈片(pian)微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)試驗壽(shou)命約(yue)為(wei)20w以上，比較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四倍！pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)為(wei)多組件結構，生產工藝復(fu)雜，生產難(nan)度高(gao)，交貨(huo)周期長(chang)；大(da)型電流彈片(pian)微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)為(wei)一體化彈片(pian)結構，輕、扁平，可(ke)根據客戶要求定制，生產難(nan)度低(di)，交貨(huo)周期短。相比之下(xia)，大(da)型電流彈片(pian)微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)成本性能(neng)并不太高(gao)！

　　對(dui)比母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率(lv)，pogopin探針(zhen)(zhen)模組針(zhen)(zhen)對(dui)BTB連接器母座(zuo)(zuo)幾乎無法實現，穩(wen)定性極差。大(da)部分采(cai)用觸摸(mo)方(fang)案對(dui)應(ying)，母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率(lv)不到80%；母座(zuo)(zuo)上(shang)有一種特別的(de)大(da)電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)對(dui)應(ying)方(fang)法。將斜口型（也(ye)稱尖頭型）彈(dan)片頭插入連接器內端(duan)(duan)子(zi)(zi)，以保持(chi)(chi)一定的(de)開度(du)，從而保障彈(dan)片的(de)接觸面和接觸面BTB連接器端(duan)(duan)子(zi)(zi)兩(liang)側保持(chi)(chi)接觸狀(zhuang)態，使測(ce)(ce)試(shi)穩(wen)定，母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率(lv)高達(da)99.8%。

　
　大電流彈片(pian)微針模(mo)塊測試效率高，穩定性好(hao)。與同一產(chan)品測試前(qian)后(hou)相比，連接(jie)器基本上看不到刺痕，不會對產(chan)品造成任何損壞pogopin探針電池測試模(mo)塊更值得選(xuan)擇和(he)信賴(lai)。