我們常(chang)看(kan)到(dao)的一(yi)些3C產品，里面都有安裝鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具有高能量密度、高電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽(shou)命長、無(wu)記憶效應等優(you)點，是(shi)(shi)21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可(ke)廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平(ping)板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆(bi)記本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備(bei)等領(ling)域(yu)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)容易因短路、過充(chong)等原因燒(shao)毀或爆炸(zha)，所(suo)以很危險(xian)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)是(shi)(shi)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制(zhi)造和組(zu)裝的重要(yao)環(huan)節，是(shi)(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)能和安全靠譜使用的有力保障，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)項(xiang)目(mu)主要(yao)包括一(yi)致(zhi)性(xing)、功能性(xing)、安全性(xing)、靠譜性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰(li)(li)電(dian)池測(ce)(ce)試對電(dian)池測(ce)(ce)試模(mo)塊的選(xuan)擇很(hen)重要。目(mu)前市場(chang)上(shang)廣泛使(shi)用(yong)的電(dian)池測(ce)(ce)試模(mo)塊有兩(liang)種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)凱智通大(da)電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)塊，另一(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)模(mo)塊。通過比較兩(liang)者的優缺點，我們可以更直觀地(di)區分哪(na)一(yi)個更符合要求3C鋰(li)(li)電(dian)池測(ce)(ce)試要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，歐美日韓精品:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間距還是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針模塊都有(you)很好的應(ying)對方法。pitch在(zai)該(gai)領(ling)域，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針模塊是可(ke)取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜。面對大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測(ce)試要(yao)求(qiu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針模塊可(ke)通(tong)過(guo)的額定電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有(you)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減，具有(you)良好的連接功能，可(ke)以(yi)很大(da)(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試的穩定性。

　　就使用壽命而言，pogopin探針模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)(de)(de)試驗壽命在于5w大(da)電流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)(de)(de)試驗壽命約為(wei)20w以上，比較pogopin探針模(mo)(mo)塊(kuai)整整多(duo)了四(si)倍！pogopin探針模(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)多(duo)組件結構，生(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)產難度(du)高，交(jiao)貨周(zhou)期長(chang)；大(da)型(xing)電流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)一(yi)體化彈片(pian)結構，輕、扁平，可根據客戶(hu)要求定制，生(sheng)產難度(du)低，交(jiao)貨周(zhou)期短(duan)。相比之(zhi)下，大(da)型(xing)電流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)(de)(de)成本性能并不(bu)太高！

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良率，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)組(zu)針(zhen)對(dui)BTB連接(jie)(jie)器母(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無(wu)法(fa)實現，穩定性極差。大(da)部(bu)分采用觸(chu)摸方案對(dui)應，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良率不到80%；母(mu)座(zuo)(zuo)上有一(yi)種特(te)別的(de)大(da)電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊對(dui)應方法(fa)。將斜口(kou)型（也稱尖頭(tou)型）彈片(pian)頭(tou)插入連接(jie)(jie)器內端子，以保(bao)持(chi)一(yi)定的(de)開度，從而保(bao)障(zhang)彈片(pian)的(de)接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)BTB連接(jie)(jie)器端子兩側保(bao)持(chi)接(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)，使測(ce)試(shi)穩定，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良率高達(da)99.8%。

　
　大電(dian)流(liu)彈片微針模(mo)塊(kuai)(kuai)測試效率高，穩定性(xing)好。與同一(yi)產品測試前(qian)后相比，連接器基本上看不(bu)到(dao)刺(ci)痕，不(bu)會對產品造成任(ren)何損壞pogopin探針電(dian)池測試模(mo)塊(kuai)(kuai)更值得選擇和信賴。