關于BTB/FPC母座(zuo)connector測(ce)試，目前大部份的企業、廠商(shang)(shang)采(cai)用(yong)輕(qing)觸(chu)計劃降臨(lin)時應對；運(yun)用(yong)pogo pin的廠商(shang)(shang)測(ce)試母座(zuo)時，只能接觸(chu)連接器端子頂點位置，接觸(chu)區域面積小，接觸(chu)方(fang)式為點對點，相對彈片接觸(chu)面小，易磨損及運(yun)用(yong)次數到一定的壽(shou)命后易接觸(chu)不(bu)良，招致誤測(ce)等現象。

　　pogopin是由(you)(you)彈簧(huang)、針管(guan)、針軸(zhou)三個根本部(bu)件預(yu)壓之(zhi)后構成的彈簧(huang)式探針；它自身由(you)(you)幾個部(bu)件制造、裝配(pei)、涂(tu)裝而成，工藝程序復(fu)雜，但運(yun)用(yong)壽(shou)命仍(reng)然不高；由(you)(you)于pogopin自身存在(zai)的一些(xie)問題，在(zai)實踐操(cao)作針對BTB母座(zuo)connector測試時，我們理解到(dao)一些(xie)廠商(shang)的實踐狀況(kuang)：

　　1.測試不(bu)穩(wen)定，pogopin自身(shen)是多配(pei)件(jian)構(gou)造，接觸(chu)點多，易(yi)產生接觸(chu)不(bu)穩(wen)定、阻抗分歧性低等問題；

　　2.測試時探(tan)針經常性扎歪，然后(hou)需求人員重新進行探(tan)針調整，糜費了大量的時間和人工本錢(qian)；

　　3.卡PIN：同樣由于由多構造組合(he)而成，這個在pogopin身上是防止不了的問(wen)題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨(sui)著pitch的(de)(de)減少，pogo的(de)(de)針(zhen)徑也越來(lai)越小，使(shi)得探針(zhen)的(de)(de)斷針(zhen)風險(xian)逐步增加(jia)；

　　5.運(yun)用壽命很短：探針的運(yun)用壽命均在30000次(ci)以下，并容易磨損，運(yun)用次(ci)數到一定(ding)的壽命后易招致接觸不(bu)良、誤測等現象；

　　以(yi)上狀(zhuang)況相對(dui)呈(cheng)現率較高，針對(dui)以(yi)上的(de)(de)狀(zhuang)況，自(zi)然導致企業本錢的(de)(de)增加，測試(shi)穩定性差(cha)，良品率低等問題。

　　針對以上運用pogo測試BTB母座connector，下面(mian)簡單引見幾(ji)個(ge)方面(mian)：

　　1.彈片微針(zhen)模組有(you)一(yi)體成型，后(hou)期加硬鍍金處置，接觸(chu)外形（可(ke)定(ding)制(zhi)化(hua)(hua)）很容(rong)易(yi)依照(zhao)客戶請求制(zhi)造；彈片為一(yi)體化(hua)(hua)構造，減少了接觸(chu)點(dian)，防止(zhi)產生接觸(chu)不穩定(ding)、阻抗分歧性低等問題；

　　2.在(zai)測(ce)(ce)試母座時，彈片(pian)(pian)頭部插入(ru)連(lian)接器內端(duan)子，使(shi)其產生一定(ding)的張開量，這樣能夠保(bao)障(zhang)彈片(pian)(pian)接觸(chu)面(mian)與(yu)BTB連(lian)接器端(duan)子兩面(mian)不斷堅持(chi)接觸(chu)狀態；測(ce)(ce)試公座時，鋸齒型彈片(pian)(pian)大面(mian)積充沛和連(lian)接器接觸(chu)點接觸(chu)，保(bao)障(zhang)測(ce)(ce)試穩定(ding)；

　　3.電傳(chuan)播導于(yu)同一(yi)資料體內，電阻恒(heng)定(ding)，簡直沒有電流衰減，具有更好的(de)銜接功(gong)用，額定(ding)電流為3A；

　　4.由于一體成型，完(wan)整不會呈現卡pin現象，并且運用壽命能到(dao)達30萬(wan)次以上；

　　5.測(ce)試母座時，定(ding)制的斜口性彈(dan)(dan)(dan)片(pian)的頭部(bu)插入BTB連(lian)接器(qi)內彈(dan)(dan)(dan)片(pian)啟(qi)齒之間，對BTB連(lian)接器(qi)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)產生一定(ding)的張開量，微針模(mo)組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)接觸(chu)面與BTB連(lian)接器(qi)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)兩面不斷堅持接觸(chu)狀態，微針模(mo)組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)頭型自清潔設計免維(wei)護(hu)保障長期(qi)穩(wen)定(ding)性；

　　6.一體(ti)式(shi)設計(ji)，準確度高(gao)，完整不(bu)會(hui)呈現扎歪的問題；

　　7.大電流BTB彈(dan)片微針模(mo)組的測試良率能到達(da)99.5%；

　　8.能更(geng)好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微針模組（blade block）在同一(yi)模組，測試(shi)前(qian)和測試(shi)20次后，連接器上根本看(kan)不到任何(he)扎(zha)痕；

　　針對(dui)市場上(shang)，企業(ye)運用pogopin一(yi)系列(lie)的問題，我們自主創新(xin)的大電(dian)流BTB彈片微針模組（blade block）的處理計劃能更好的應對(dui)，協(xie)助(zhu)企業(ye)儉省本錢。

　　相較于目前市場(chang)上(shang)的(de)痛點(dian)，大電流彈片微針(zhen)模(mo)組（blade block），一體成型的(de)彈片根卡pin、銜(xian)接穩定(ding)性差、斷針(zhen)，接觸外形可定(ding)制(zhi)化防止了產生接觸不穩定(ding)、阻抗分歧性低，能(neng)應對(dui)pitch≤0.2mm、測(ce)試(shi)效率高、穩定(ding)性高、能(neng)兼(jian)容小(xiao)pitch BTB公(gong)母座穩定(ding)且牢靠(kao)、能(neng)接受的(de)頂點(dian)為50A大電流、運用壽命更長、快速出樣、訂(ding)貨周(zhou)期短等優點(dian)。