21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可(ke)(ke)廣泛應用于 3C 也被稱為(wei)手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)(ke)穿戴設(she)備等(deng)(deng)領域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具(ju)有(you)能量(liang)密度高、電(dian)(dian)(dian)壓高、壽命長、無(wu)記(ji)憶(yi)效(xiao)應等(deng)(deng)優點(dian)，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)是(shi)容易因(yin)短路(lu)、過(guo)充等(deng)(deng)原(yuan)因(yin)燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制造(zao)和(he)組裝(zhuang)的重要(yao)環節，是(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)(xing)(xing)能和(he)安全靠(kao)譜使用的有(you)力保(bao)障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)項目(mu)主要(yao)包(bao)括一致性(xing)(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)(xing)、可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)(xing)和(he)工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是歐美日韓精品:pogopin探針模塊(kuai)。通過比較兩者的優(you)缺點，我們(men)可以(yi)更直觀地區分哪(na)一個更符合要求3C鋰電(dian)池測試要求。

　　從目前的市場趨勢來(lai)看，3C電(dian)子(zi)產品內(nei)部空間(jian)集成(cheng)度高，pitch不(bu)(bu)(bu)斷縮小，pogopin探針(zhen)模組在(zai)小pitch該(gai)領域(yu)適應性差(cha)，只能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的pitch壽命(ming)和穩定(ding)(ding)性差(cha)。3C鋰電(dian)池(chi)測試對電(dian)流的需求很大，pogopin探針(zhen)模塊能承載(zai)的額定(ding)(ding)電(dian)流僅(jin)為1A，在(zai)傳輸過程中，電(dian)流會在(zai)不(bu)(bu)(bu)同位衰減，導致連接不(bu)(bu)(bu)穩定(ding)(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)組無論(lun)是(shi)面對(dui)小(xiao)間距還是(shi)大電(dian)(dian)流(liu)，都有很好(hao)(hao)的(de)(de)應對(dui)方法(fa)。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領域，大電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊是(shi)可取的(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩(wen)定(ding)(ding)(ding)可靠(kao)。面對(dui)大電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試要求，大電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊可通過(guo)的(de)(de)額定(ding)(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)大到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良(liang)好(hao)(hao)的(de)(de)連(lian)接(jie)功能(neng)，可以很大限(xian)度地保障3C鋰(li)電(dian)(dian)池測(ce)試的(de)(de)穩(wen)定(ding)(ding)(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽(shou)(shou)命(ming)而言，pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊的試驗壽(shou)(shou)命(ming)在于5w大電(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組的試驗壽(shou)(shou)命(ming)約為20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊整(zheng)整(zheng)多了四倍(bei)!況且(qie)pogo pin探針(zhen)模(mo)(mo)塊為多組件(jian)結(jie)構，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難度高，交貨期長;大電(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組是(shi)一種集成彈(dan)(dan)片(pian)結(jie)構，輕、扁平，可根據客(ke)戶(hu)要求定制，生(sheng)產難度低，交貨期短(duan)。相(xiang)比之下，通(tong)大電(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組的成本性能并不太高!

　　對比母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)良率，pogopin針對探(tan)針模(mo)塊BTB連接(jie)(jie)器(qi)母(mu)(mu)座幾乎無法實現，穩定(ding)性極差。大(da)部分采用觸摸方案對應(ying)(ying)，母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)良率不到80%;母(mu)(mu)座上(shang)有(you)一(yi)種特別(bie)的(de)通大(da)電(dian)流彈片(pian)微針模(mo)組對應(ying)(ying)方法。將(jiang)斜(xie)口型(也稱尖頭(tou)型)彈片(pian)頭(tou)插(cha)入(ru)連接(jie)(jie)器(qi)內端子(zi)，以保持一(yi)定(ding)的(de)開度，從而(er)保障彈片(pian)的(de)接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器(qi)端子(zi)兩側保持接(jie)(jie)觸狀態(tai)，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)(mu)座測(ce)試(shi)良率達到99.8%。

　　大(da)電流彈片微針模組測(ce)試效率高，穩定性好。與同一(yi)產品(pin)(pin)測(ce)試前后相(xiang)比，連接(jie)器(qi)基本上看不到刺(ci)痕，不會對產品(pin)(pin)造成任何損壞(huai)pogo pin電池測(ce)試模塊更值得選擇和(he)信賴。