關(guan)于BTB/FPC母座connector測試，目前大部份的(de)(de)企業、廠商采用輕觸(chu)計劃(hua)降臨時應對(dui)；運(yun)用pogo pin的(de)(de)廠商測試母座時，只能接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器端子(zi)頂點(dian)(dian)位置，接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)區域面(mian)積小，接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)方式為(wei)點(dian)(dian)對(dui)點(dian)(dian)，相對(dui)彈片接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)面(mian)小，易(yi)磨損及運(yun)用次數到(dao)一定(ding)的(de)(de)壽命后易(yi)接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)不良，招致誤測等現象。

　　pogopin是由彈(dan)簧、針(zhen)(zhen)(zhen)管(guan)、針(zhen)(zhen)(zhen)軸三(san)個(ge)根本部件預壓之后(hou)構成(cheng)的(de)彈(dan)簧式探針(zhen)(zhen)(zhen)；它自(zi)身由幾個(ge)部件制造、裝(zhuang)(zhuang)配、涂裝(zhuang)(zhuang)而成(cheng)，工藝程序(xu)復雜，但運用壽命仍然不高；由于pogopin自(zi)身存在的(de)一些(xie)問題，在實踐操作針(zhen)(zhen)(zhen)對BTB母座connector測試時，我們理解(jie)到一些(xie)廠商的(de)實踐狀況：

　　1.測試不穩(wen)定(ding)(ding)，pogopin自身是(shi)多(duo)配件構造，接觸點多(duo)，易產(chan)生(sheng)接觸不穩(wen)定(ding)(ding)、阻抗分歧性低等(deng)問(wen)題；

　　2.測試時探針(zhen)經常性扎歪，然(ran)后(hou)需求人員(yuan)重(zhong)新進(jin)行(xing)探針(zhen)調(diao)整，糜費了大(da)量的時間和人工本錢；

　　3.卡PIN：同(tong)樣由于由多構造組合(he)而成，這個在pogopin身(shen)上是防止不了的問題；

　　4.極(ji)易斷(duan)針(zhen)(zhen)：隨著pitch的減少，pogo的針(zhen)(zhen)徑也越來越小，使(shi)得探針(zhen)(zhen)的斷(duan)針(zhen)(zhen)風(feng)險逐步增(zeng)加；

　　5.運用壽命很短：探(tan)針(zhen)的(de)運用壽命均在(zai)30000次(ci)以下，并容易磨損(sun)，運用次(ci)數(shu)到(dao)一定的(de)壽命后易招(zhao)致接觸不良、誤測(ce)等現象；

　　以(yi)上狀(zhuang)況(kuang)相對(dui)(dui)呈現率較(jiao)高，針對(dui)(dui)以(yi)上的狀(zhuang)況(kuang)，自然導(dao)致企業本錢的增(zeng)加(jia)，測試穩定(ding)性差(cha)，良品(pin)率低等問題(ti)。

　　針(zhen)對以上運用(yong)pogo測試BTB母座connector，下面簡(jian)單引見(jian)幾個方面：

　　1.彈片微針模組有一(yi)體成型，后期加(jia)硬鍍(du)金處置，接(jie)(jie)觸外形（可定(ding)(ding)制化）很容(rong)易(yi)依(yi)照客戶請求制造；彈片為一(yi)體化構(gou)造，減(jian)少(shao)了接(jie)(jie)觸點，防止產生接(jie)(jie)觸不穩定(ding)(ding)、阻抗分歧性低等(deng)問題；

　　2.在測(ce)試母座(zuo)時，彈(dan)片頭部插入連接(jie)器(qi)內端(duan)子，使其(qi)產生一定的張(zhang)開量，這(zhe)樣(yang)能夠(gou)保障彈(dan)片接(jie)觸面與BTB連接(jie)器(qi)端(duan)子兩面不斷(duan)堅持接(jie)觸狀態；測(ce)試公座(zuo)時，鋸齒(chi)型彈(dan)片大面積充沛和連接(jie)器(qi)接(jie)觸點接(jie)觸，保障測(ce)試穩定；

　　3.電(dian)傳播導于同(tong)一資料體內，電(dian)阻恒定(ding)(ding)，簡直沒有電(dian)流(liu)衰減，具有更好的(de)銜接功用，額定(ding)(ding)電(dian)流(liu)為(wei)3A；

　　4.由于一體成型，完(wan)整(zheng)不(bu)會呈(cheng)現卡pin現象，并且運用壽命能(neng)到達30萬次(ci)以上；

　　5.測(ce)試母座時(shi)，定(ding)制的斜口性彈(dan)片的頭(tou)部插入BTB連接(jie)器(qi)內彈(dan)片啟齒(chi)之(zhi)間，對BTB連接(jie)器(qi)彈(dan)片產(chan)生一(yi)定(ding)的張開量(liang)，微(wei)針模組(zu)彈(dan)片接(jie)觸面與BTB連接(jie)器(qi)彈(dan)片兩面不(bu)斷堅持接(jie)觸狀態(tai)，微(wei)針模組(zu)彈(dan)片頭(tou)型自(zi)清(qing)潔設計免維護保障長期穩(wen)定(ding)性；

　　6.一體(ti)式設計，準確度高，完整不會(hui)呈現扎歪的問(wen)題；

　　7.大電(dian)流(liu)BTB彈片微針模組的測試(shi)良率能到達(da)99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微針模(mo)組(zu)（blade block）在同一(yi)模(mo)組(zu)，測試(shi)前和測試(shi)20次后，連接器上根本看不到任何扎痕(hen)；

　　針對(dui)市場上(shang)，企業(ye)運用pogopin一系列的問題，我們自主創新的大電流BTB彈(dan)片微針模組（blade block）的處理(li)計劃能更好的應對(dui)，協助企業(ye)儉(jian)省本錢。

　　相較于目(mu)前市(shi)場(chang)上的痛點，大(da)電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組（blade block），一(yi)體成型的彈(dan)片(pian)根卡pin、銜接(jie)穩(wen)定性(xing)差、斷針(zhen)，接(jie)觸外形可定制化防止了(le)產生接(jie)觸不穩(wen)定、阻抗分歧(qi)性(xing)低(di)，能(neng)應對pitch≤0.2mm、測試(shi)效率高、穩(wen)定性(xing)高、能(neng)兼容(rong)小pitch BTB公(gong)母座穩(wen)定且(qie)牢靠、能(neng)接(jie)受的頂點為(wei)50A大(da)電流、運(yun)用壽命(ming)更長、快速(su)出(chu)樣、訂貨周期短(duan)等(deng)優點。