21世紀發展的理想電源。鋰(li)(li)電池可(ke)廣泛應用于 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電腦、筆記(ji)本(ben)電腦、可(ke)穿戴設(she)備等(deng)(deng)領域，鋰(li)(li)電池具有能量(liang)密度高、電壓高、壽命長、無記(ji)憶(yi)效(xiao)應等(deng)(deng)優(you)點，3C鋰(li)(li)電池是(shi)容(rong)易因短路、過充等(deng)(deng)原(yuan)因燒毀或爆炸，所以(yi)很危險3C鋰(li)(li)電池測(ce)試是(shi)鋰(li)(li)電池制造(zao)和(he)(he)組裝的重要環(huan)節，是(shi)實(shi)現鋰(li)(li)電池性(xing)能和(he)(he)安全(quan)(quan)靠(kao)譜使用的有力保(bao)障。3C鋰(li)(li)電池測(ce)試項目主(zhu)要包(bao)括一致(zhi)性(xing)、功能性(xing)、安全(quan)(quan)性(xing)、可(ke)靠(kao)性(xing)和(he)(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是歐美日韓精品:pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)。通(tong)過比較(jiao)兩者的優(you)缺點(dian)，我們(men)可以更(geng)直觀地(di)區分哪一個(ge)更(geng)符合要求(qiu)3C鋰電(dian)池測試(shi)要求(qiu)。

　　從目前的(de)市場趨(qu)勢來看，3C電(dian)子(zi)產品內部空(kong)間集成度高，pitch不(bu)斷縮小(xiao)，pogopin探(tan)針模組(zu)在(zai)(zai)小(xiao)pitch該領域適應性差，只(zhi)能處理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽命(ming)和穩定性差。3C鋰電(dian)池測(ce)試對(dui)電(dian)流的(de)需求(qiu)很(hen)大，pogopin探(tan)針模塊能承(cheng)載(zai)的(de)額定電(dian)流僅為1A，在(zai)(zai)傳輸過程中，電(dian)流會在(zai)(zai)不(bu)同位衰減，導(dao)致連接不(bu)穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)微針模(mo)組(zu)無論是面(mian)對(dui)(dui)小間距還是大(da)電(dian)(dian)流，都有(you)(you)很好的(de)應對(dui)(dui)方法。在小pitch在該領域，大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊是可(ke)取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩定可(ke)靠。面(mian)對(dui)(dui)大(da)電(dian)(dian)流測試要(yao)求，大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊可(ke)通(tong)過的(de)額定電(dian)(dian)流大(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有(you)(you)電(dian)(dian)流衰(shuai)減，具有(you)(you)良好的(de)連接功能(neng)，可(ke)以很大(da)限度地保(bao)障3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試的(de)穩定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽命而言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊的試(shi)驗(yan)壽命在于5w大(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的試(shi)驗(yan)壽命約為(wei)20w以(yi)上，比較(jiao)pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊整整多了四倍!況且(qie)pogo pin探(tan)針(zhen)模(mo)塊為(wei)多組(zu)(zu)件結構，生(sheng)產(chan)工(gong)藝復雜，生(sheng)產(chan)難(nan)(nan)度(du)高，交貨(huo)期(qi)長;大(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)是一種集(ji)成彈(dan)(dan)片結構，輕、扁(bian)平，可根據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)難(nan)(nan)度(du)低，交貨(huo)期(qi)短。相比之下，通大(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的成本性能并不太高!

　　對(dui)比母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)，pogopin針(zhen)(zhen)對(dui)探(tan)針(zhen)(zhen)模塊BTB連接(jie)(jie)器母(mu)(mu)座(zuo)幾乎無法(fa)實(shi)現，穩(wen)定(ding)性極差。大(da)部(bu)分采用觸(chu)摸方案對(dui)應(ying)，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)不到(dao)80%;母(mu)(mu)座(zuo)上有一(yi)種(zhong)特別(bie)的通大(da)電流彈(dan)片(pian)(pian)微針(zhen)(zhen)模組對(dui)應(ying)方法(fa)。將斜口(kou)型(也稱(cheng)尖頭型)彈(dan)片(pian)(pian)頭插入連接(jie)(jie)器內端子，以保(bao)持一(yi)定(ding)的開度，從而保(bao)障彈(dan)片(pian)(pian)的接(jie)(jie)觸(chu)面和(he)接(jie)(jie)觸(chu)面BTB連接(jie)(jie)器端子兩(liang)側保(bao)持接(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)，使測(ce)(ce)試(shi)(shi)穩(wen)定(ding)，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)達到(dao)99.8%。

　　大電(dian)流彈(dan)片微針模組測試效(xiao)率(lv)高，穩定性(xing)好。與同一產品(pin)測試前后相比，連接器(qi)基本上看不到刺痕，不會對(dui)產品(pin)造成(cheng)任何損壞(huai)pogo pin電(dian)池測試模塊更(geng)值得選擇和(he)信賴。